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微縮時代下的挑戰與突破:OEG推出「HED-C5000R」CDM靜電耐性測試設備,提升良率!

在半導體行業中,隨著技術不斷創新,對元件小型化和輕量化的需求日益增加,從而推動了半導體微縮化的發展。然而,微縮也使得半導體器件對靜電變得更加敏感,在裝配過程中容易發生靜電導致半導體裝置放電,從而損壞半導體器件內部電路。因此,為了應對這一挑戰,更準確的靜電耐性評估變得至關重要。


圖片來源:阪和電子工業-新推出的CDM測試裝置「HED-C5000R」


為了應對這一挑戰,OEG引進了阪和電子工業的最新CDM測試設備「HED-C5000R」。這一設備具有更精確的濕度控制能力,可在5%的範圍內進行控制,同時提高了放電波形的穩定性和重現性。此外,該設備內置的CCD相機還可以使專業人員得以檢查更窄間距的元件,從而擴大了測試的範圍,例如:BGA(球格陣列)的測試。


圖片來源:阪和電子工業-新推出的CDM測試裝置「HED-C5000R」可以處理更窄的間距


除了提供測試服務外,OEG還提供故障分析服務,借助擁有豐富故障分析和靜電保護電路經驗的專業人才,OEG公司可以為客戶提供全方位的解決方案,實現一站式服務。在這個不斷發展的半導體產業中,CDM測試服務將有助於半導體行業應對靜電帶來的挑戰,提高產品的品質和可靠性,從而增強其在市場上的競爭力。




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