微縮時代下的挑戰與突破：OEG推出「HED-C5000R」CDM靜電耐性測試設備，提升良率！
在半導體行業中，隨著技術不斷創新，對元件小型化和輕量化的需求日益增加，從而推動了半導體微縮化的發展。然而，微縮也使得半導體器件對靜電變得更加敏感，在裝配過程中容易發生靜電導致半導體裝置放電，從而損壞半導體器件內部電路。因此，為了應對這一挑戰，更準確的靜電耐性評估變得至關重要。
圖片來源：阪和電子工業-新推出的CDM測試裝置「HED-C5000R」
為了應對這一挑戰，OEG引進了阪和電子工業的最新CDM測試設備「HED-C5000R」。這一設備具有更精確的濕度控制能力，可在5％的範圍內進行控制，同時提高了放電波形的穩定性和重現性。此外，該設備內置的CCD相機還可以使專業人員得以檢查更窄間距的元件，從而擴大了測試的範圍，例如：BGA（球格陣列）的測試。
圖片來源：阪和電子工業-新推出的CDM測試裝置「HED-C5000R」可以處理更窄的間距
除了提供測試服務外，OEG還提供故障分析服務，借助擁有豐富故障分析和靜電保護電路經驗的專業人才，OEG公司可以為客戶提供全方位的解決方案，實現一站式服務。在這個不斷發展的半導體產業中，CDM測試服務將有助於半導體行業應對靜電帶來的挑戰，提高產品的品質和可靠性，從而增強其在市場上的競爭力。
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