AI 與高速通訊核心!勤友光電以 Laser Debonder 引領化合物半導體關鍵製程
- 3天前
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隨著 AI 與高速通訊需求爆發,InP(磷化銦)與 GaAs(砷化鎵)等三五族半導體,憑藉獨特的光電特性,在 AI 資料中心與 5G/6G 領域中扮演著不可或缺的傳輸樞紐。
儘管市場潛力巨大,但這些材料脆弱且昂貴的特性,使得後段加工面臨極大挑戰。為此,Laser Debonder(雷射解膠 / 剝離設備) 應運而生,成功克服了製程上的痛點,成為業界實現高良率晶圓薄化與先進封裝的核心關鍵。
InP 與 GaAs 的物理優勢與 AI、通訊應用分工
相較於傳統的矽(Si)基材料,InP 與 GaAs 具備直接能隙(Direct Bandgap)與超高電子遷移率,這使得它們能高效實現電光轉換,並在極高頻率下穩定運作。兩者在市場上的分工分述如下:
InP(磷化銦)— AI 光通訊與超高速傳輸的核心
InP 的發光波長完美契合光纖傳輸的低損耗波段(1310nm 至 1550nm),且具備極高的飽和電子漂移速度。在 AI 資料中心內,GPU 之間的傳輸需求已從 400G/800G 邁向更高速率,傳統銅線因訊號衰減已達極限。InP 被廣泛用於製造高速光模組中的共同封裝光學(CPO)、分佈回饋型雷射(DFB Laser)及電吸收調變雷射(EML),主宰了長距離、超高速的 AI 算力基礎設施。
GaAs(砷化鎵)— 中短距離光通訊與無線射頻的主力
GaAs 擁有非常成熟的製程與成本優勢。在通訊領域,它是智慧型手機、WiFi 7 射頻前端功率放大器(PA)的標準配置;在 AI 資料中心內部,GaAs 製成的面射型雷射(VCSEL)則主導了中或短距離傳輸,提供高性價比的高速連線。
製造挑戰:脆弱晶圓的薄化難題
儘管 InP 和 GaAs 性能優異,但它們的材料特性帶來了棘手的製造限制:
硬度低且極脆:GaAs 和 InP 比矽晶圓更為脆弱,在製程中極易發生破裂、翹曲。
散熱與高頻效能需求:為了提升元件的散熱效率並縮短導通孔路徑以利高頻傳輸,晶圓必須進行極度薄化。
高昂的基板成本:InP 基板價格極高且尺寸較小(主流為 4 吋至 6 吋),傳統的機械剝離或化學解膠極易造成晶圓損壞,導致難以承受的良率損失。
Laser Debonder 在三五族半導體製程中的關鍵角色
為了在不損壞晶圓的前提下完成薄化與後續加工,半導體後段製程廣泛採用暫時性鍵合與解膠技術(Temporary Bonding and Debonding, TBDB)。而 Laser Debonder(雷射解膠系統) 正是此技術的核心:
精準能量控制,實現無應力分離
在製程中,InP/GaAs 晶圓的正面會先透過特殊的雷射解膠膜(Laser Debond Film)黏貼於玻璃載板(Glass Carrier)上。當背面的薄化與電極製作完成後,Laser Debonder 會發射特定波長( 355nm 紫外光)的雷射,穿透玻璃載板精準照射在膠材介面上。雷射能量會瞬間破壞膠材的化學鍵使其光解,讓晶圓與載板在完全無機械外力(無應力)的狀態下自動分離,完美避免了脆性化合物晶圓的碎裂。
避免熱損傷,保護敏感光電元件
GaAs 與 InP 元件(如雷射二極體、精密光電探測器)對溫度極其敏感。傳統的熱解膠技術需要長時間高溫加熱,容易導致晶圓內部的金屬層或光電結構變質。Laser Debonder 採用短脈衝雷射進行非接觸式加工,作用時間極短且熱影響區(HAZ)極小,能在維持常溫的情況下完成去接合,確保 AI 光通訊晶片的光學特性與電子結構不受影響。
支撐三維異質整合(3D IC / CPO)
隨著 AI 對頻寬的需求邁向太赫茲(THz)世代,將 InP/GaAs 光電晶片與矽基邏輯晶片(如 GPU、ASIC)進行三維堆疊(3D Integration)已成必然趨勢。Laser Debonder 能夠穩定處理超薄晶圓及重佈線層(RDL)的轉移,是實現先進光電異質整合、降低傳輸延遲不可或缺的製程基石。
早在 2021 年,勤友光電便已深具前瞻視野,與一線客戶展開深度合作,率先將 Laser Debonder導入此關鍵領域並成功商業化。如今,隨著 AI 算力的無止境擴張與通訊技術的世代交替,InP 與 GaAs 等化合物半導體已被推上科技浪潮的最前線,而勤友光電的提早佈局正展現出巨大價值。
作為後段先進封裝與薄化製程的「隱形守護者」,勤友光電的 Laser Debonder 成功克服了三五族材料高脆性、高成本的製造挑戰。憑藉精準、低熱效應的雷射解膠技術,不僅大幅提升高效能光通訊晶片的產出良率,更加速了高密度共同封裝光學(CPO)與未來 6G 晶片的商轉進程,成為推動化合物半導體在 AI 時代發光發熱的重要推手。

化合物半導體晶圓示意. 來源: xiao zhou / Getty Images




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